01｜光學(xué)波導(dǎo)的四波混頻產(chǎn)生及應(yīng)用
報告人簡介：
李康，男，英國南威爾士大學(xué)無線與光電子研究創(chuàng)新中心高級研究員，博士生導(dǎo)師。中國科學(xué)院大學(xué)博士。英國物理學(xué)會會員，美國光學(xué)學(xué)會會員。長期從事激光功率器件，可調(diào)諧激光光源及測量，激光與物質(zhì)作用，發(fā)光超材料等研究。主持并參與多項(xiàng)英國創(chuàng)新研發(fā)項(xiàng)目，累計金額超過兩百萬英鎊。與國際各大光電公司合作研發(fā)產(chǎn)品多項(xiàng)，發(fā)表論文80余篇，申請和擁有國際專利4項(xiàng)，國內(nèi)專利10項(xiàng)。
報告摘要：
四波混頻（FWM）在各個領(lǐng)域得到了廣泛研究和應(yīng)用，特別是在光通訊領(lǐng)域。為了實(shí)現(xiàn)不同波長之間的信號轉(zhuǎn)換，高非線性光纖被用于實(shí)現(xiàn)寬帶高效的波長轉(zhuǎn)換，這在密集波分復(fù)用（DWDM）系統(tǒng)中得到了廣泛應(yīng)用。同時，在精密測量和檢測領(lǐng)域，對小型化和高效的四波混頻器件的需求日益增長。
本報告擬討論基于硅基絕緣體（SOI）及III-V族材料的高非線性光學(xué)波導(dǎo)的四波混頻產(chǎn)生及應(yīng)用。報告將分析SOI及III-V族材料的高非線性光學(xué)特性，并介紹本課題組和其他國際前沿課題組的最新研究進(jìn)展。此外，報告將對比討論SOI及III-V族材料的高非線性光學(xué)波導(dǎo)在四波混頻產(chǎn)生效率方面的區(qū)別。報告還將分析討論SOI及III-V族材料光波導(dǎo)耦合器的設(shè)計和測試結(jié)果，探討最終實(shí)現(xiàn)高效、高功率、小型化四波混頻光芯片的可能性。
02｜非破壞性聚合物基產(chǎn)品表面粗糙度分析整合激光散斑技術(shù)
報告人簡介：
Adam Jones，男，英國南威爾士大學(xué)講師。現(xiàn)為無線與光電子研究創(chuàng)新中心（WORIC）的兼職研究員。他的博士研究與工業(yè)合作伙伴塔塔鋼鐵公司合作，致力于探索和開發(fā)一種用于鋼包裝產(chǎn)品涂層厚度測量的創(chuàng)新非破壞性在線測量系統(tǒng)。主持并參與多項(xiàng)英國創(chuàng)新研發(fā)項(xiàng)目。
報告摘要：
在本次研究講座中，我們將介紹一種針對聚合物樣品表面粗糙度測量的突破性方法，該方法基于激光散斑光度原理，具有非接觸和非破壞性的特點(diǎn)，非常適合用于過程中的實(shí)時測量。我們將詳細(xì)介紹一種用于聚合物樣品表面粗糙度離線表征的方法，該方法利用觸針輪廓儀，這是在聚合物制造中不常用的技術(shù)。在我們的研究中，我們對不同形狀輪廓的聚合物產(chǎn)品上的激光散斑的可靠性和穩(wěn)定性進(jìn)行了深入調(diào)查，并通過平均強(qiáng)度匹配技術(shù)取得了成功。這使我們能夠?qū)⒈砻娲植诙扰c兩種激光散斑統(tǒng)計參數(shù)（激光散斑對比度和二值化技術(shù)）相關(guān)聯(lián)。通過這種方法，我們能夠提供有關(guān)聚合物制造過程中表面粗糙度測量技術(shù)的重要見解。本研究的結(jié)果不僅解決了聚合物制造中現(xiàn)有的表面粗糙度評估挑戰(zhàn)，還顯著提高了產(chǎn)品的質(zhì)量和性能。我們的技術(shù)為改進(jìn)制造工藝和確保聚合物產(chǎn)品的可靠性提供了寶貴的工具，具有廣泛的應(yīng)用前景。
03｜外腔激光二極管在腔長、光反饋、譜線寬度和散斑條件下的實(shí)驗(yàn)研究
報告人簡介：
Chris Evered，男，英國南威爾士大學(xué)在讀博士生。他的研究由KESS計劃資助，并與Global Laser Ltd合作進(jìn)行。他的研究重點(diǎn)是開發(fā)一種低成本、穩(wěn)定的基于外腔的消散斑激光器。該技術(shù)旨在提高工業(yè)視覺圖像的質(zhì)量，特別是在制造業(yè)和其他工業(yè)環(huán)境中。
報告摘要：
本報告探討不同反饋程度對散斑減少的影響，發(fā)現(xiàn)通過調(diào)節(jié)外腔激光器（ECL）可以實(shí)現(xiàn)激光線寬的展寬。我們研究了在外部光反饋（EOF）條件下可見光激光二極管（LD）的激光散斑對比度（LSC），探索這些參數(shù)之間存在顯著的相關(guān)性。
本報告擬討論可變反饋參量（fext）、外腔長度（ECL）和泵浦電流（J）的實(shí)驗(yàn)裝置，調(diào)查它們與光學(xué)線寬和外部光反饋引起的散斑對比度（SC）減少之間的關(guān)系。總共收集了七種反饋分?jǐn)?shù)、兩種泵浦電流和三種外腔長度的散斑對比度和光學(xué)線寬數(shù)據(jù)。結(jié)果表明，我們實(shí)現(xiàn)了最高3.90?nm（1/e2寬度）的光學(xué)線寬，散斑對比度減少最多達(dá)到41.6%。此外，研究揭示了散斑對比度與光學(xué)線寬、散斑對比度與反饋分?jǐn)?shù)之間的負(fù)相關(guān)關(guān)系，以及光學(xué)線寬與反饋分?jǐn)?shù)之間的正相關(guān)關(guān)系。
